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产品简介
1. 产品简介
XV400是一款光谱范围为180nm-430nm的光纤光谱仪。检测器采用滨松面阵背照式CCD, 16-bit A/D采样和75%的量子效率为光谱仪提供高信噪比和大的动态范围。可以广泛应用在理化分析、生物样品、半导体材料检测,光学检测和材料检测等领域。 XV400在0-40度,光谱波长偏移< 0.1nm,具备良好热稳定性,能够应用于定性、定量检测场景。
2. 产品外观及结构图
图1 XV400正面图 | 图2 XV400侧面图 |
图3 XV400尺寸图
3. 产品特点
? 响应强度大:在检测物质时光谱响应强度大;
? 分辨率高:分辨率<1.0nm@25μmslit;
? 良好的热稳定性:光谱波长偏移< 0.1nm@ 0-40℃, 灵敏度偏差<2%。
4. 产品参数
产品参数 | |
尺寸: | 95×71×41mm |
重量: | ~350g |
探测器: | 滨松面阵背照式CCD |
波动范围: | 180-430nm |
像素: | 2048 ×64 有效像素 |
光谱分辨率: | <1 nm@25μm狭缝 |
信噪比: | 450:1 |
A/D 采样: | 16bit |
暗噪声: | 55 RMS |
动态范围: | 1200:1 |
积分时间: | 4ms-40 second |
连接器: | MiniUSB |
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